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相比在双85条件下进行的标准试验是为了防止在实际芯片表面出现冷凝，AC-HTC试验则是引发冷凝，并通过在终端接 […]

iC和GaN半导体栅应力测试 除了众所周知的栅氧化物驱动的降解机制外，在碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)第三

创新的SiC和GaN半导体可靠性
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